• Introduction générale à la fiabilité des systèmes et composants.
• Les défis des environnements sévères (spatiaux, nucléaires, militaires, automobiles) sur les composants électroniques.
• Impact des contraintes environnementales : chaleur, vibrations, humidité, irradiation.

Objectif: poser les bases du symposium en exposant les risques et les besoins croissants de la fiabilité sous stress extrême – vision du CNES

• Déverminage et méthodologies HALT et HASS : leur application pour tester la robustesse des composants et systèmes.
• Études de cas industriels : retour d’expérience sur l’utilisation de ces essais dans les secteurs de l’aérospatial, de l’automobile et de l’énergie.
• Optimisation des essais accélérés pour mieux refléter les conditions d’utilisation réelles.

Objectif: aborder comment les essais accélérés sont utilisés pour identifier les faiblesses des systèmes dans des conditions extrêmes.

• Fiabilité prévisionnelle : méthodologies et modèles de base pour estimer la durée de vie et la performance des composants sous stress.
• Mesure de MTF (Mean Time to Failure), TTF (Time to Failure) et énergie d’activation dans le cadre de nouvelles technologies sensibles aux radiations.
• Utilisation des essais environnementaux et des irradiations dans la création de modèles prédictifs pour des environnements sévères.

Objectif: intégrer la modélisation prédictive dans le cadre des essais extrêmes pour anticiper les pannes et améliorer la robustesse.

• Impact des radiations sur les composants électroniques (ions lourds, neutrons, protons) dans les secteurs ferroviaire, automobile et aérospatial.
• Essais d’irradiation : méthodes, installations (GANIL par exemple) et outils pour tester les composants sous radiations.
• Effets induits par l’irradiation : comprendre et gérer les problèmes générés pour des systèmes critiques.

Objectif: approfondir les techniques d’irradiation et leurs impacts spécifiques, avec un focus sur les effets physiques comme l’activation des matériaux et les effets singuliers.